本书是半导体器件物理实验教程，课程目标与工程教育认证紧密关联，为半导体产业的人才培养提供有力支持。 全书共7章，主要内容包括绪论、半导体材料属性实验、二极管特性实验、双极型晶体管特性实验、场效应晶体管特性实验、专用半导体器件特性实验、运算放大器实验。本书涉及的实验分为半导体器件物理理论课程相配套的经典实验、半导体器件物理前沿科技相关的器件实验，以及后续集成电路设计课程衔接的相关实验，形成了基础性实验、设计性实验、综合性实验和创新性实验于一体的完整实验课程体系。激发读者深入研究，使其明白半导体器件物理知识在实际中的应用价值，为半导体领域学习与工作筑牢根基。 本书可作为普通高等学校集成电路类、微电子类、电子科学与技术类等相关专业“半导体器件物理”理论课程配套的实验教材，也可作为从事集成电路领域相关工作的工程技术人员的参考书。

刘晋东，北京曾益慧创科技有限公司联合创始人、首席市场及产品官，FPGA研发工程师出身，曾在全球自动化测试测量技术领导者NI任亚太院校合作经理，了解国际工程教育发展和改革趋势，深度参与国内外多所高校集成电路专业和课程建设工作。教育部首批“集成电路设计与集成系统专业”虚拟教研室专家成员、全国大学生集成电路创新创业大赛技术导师委员会专家、国家集成电路创新中心集成电路人才发展委员会专家、中国半导体行业协会集成电路分会人才储备基地专家委员会专家、第三代半导体产业技术创新战略联盟人才发展工作委员会委员。与国内高校老师合作出版6本专著、教材，发表多篇与校企合作人才培养、教学改革相关的论文。

前言
第1章 绪论
1.1半导体器件物理实验教学的重要性
1.1.1半导体器件物理的核心地位
1.1.2半导体器件物理实验教学的意义
1.2半导体器件物理实验课程体系
1.2.1半导体器件物理实验教学的目标
1.2.2半导体器件物理实验课程架构
1.3半导体器件物理实验教程的特色
1.3.1注重半导体器件电学测试原理、方法的理解与测试实践技能的培养
1.3.2兼顾经典和新器件发展趋势的课程内容设置
1.3.3匹配工程教育专业认证标准
1.3.4利用数字化和智能化技术手段赋能实验教学
1.4IECUBE-3835数智化半导体参数实测分析平台
1.4.1当前半导体物理与器件实验室的痛点
1.4.2IECUBE-3835使用场景及测试仪器功能
1.4.3IECUBE-3835数智化能力介绍
1.5 IECUBE Online数智化平台
1.5.1IECUBE Online研发背景及功能概览
1.5.2IECUBE Online过程性实验和实践教学数据记录与评价
第2章半导体材料属性实验
2.1半导体材料的霍尔效应测试
2.1.1实验目的
2.1.2实验设备及样品
2.1.3实验背景及原理
2.1.4测试系统
2.1.5实验内容
2.1.6实验注意事项
2.1.7实验步骤
2.1.8实验过程中涉及的知识点
2.1.9实验思考题
2.2单晶硅非平衡少子寿命的测量
2.2.1实验目的
2.2.2实验设备及器件
2.2.3实验背景及原理
2.2.4测试系统
2.2.5实验内容
2.2.6实验注意事项
2.2.7实验步骤
2.2.8实验过程中涉及的知识点
2.2.9实验思考题
2.3半导体材料电阻率的四探针法测量
2.3.1实验目的
2.3.2实验设备及样品
2.3.3实验背景及原理
2.3.4测试系统
2.3.5实验内容
2.3.6实验注意事项
2.3.7实验步骤
2.3.8实验过程中涉及的知识点
2.3.9实验思考题
2.4扩展阅读
2.4.1第三代半导体代表材料GaN
2.4.2新型半导体材料测试技术
第3章二极管特性实验
3.1PN结的直流特性测试与分析
3.1.1实验目的
3.1.2实验设备及器件
3.1.3实验背景及原理
3.1.4测试系统
3.1.5实验内容
3.1.6实验注意事项
3.1.7实验步骤
3.1.8实验过程中涉及的知识点
3.1.9实验思考题
3.2肖特基结构的C-V特性与势垒高度测量
3.2.1实验目的
3.2.2实验设备及器件
3.2.3实验背景及原理
3.2.4测试系统
3.2.5实验内容
3.2.6实验注意事项
3.2.7实验步骤
3.2.8实验过程中涉及的知识点
3.2.9实验思考题
3.3扩展阅读
第4章双极型晶体管特性实验
4.1双极型晶体管的直流参数测量
4.1.1实验目的
4.1.2实验设备及器件
4.1.3实验背景及原理
4.1.4测试系统
4.1.5实验内容
4.1.6实验注意事项
4.1.7实验步骤
4.1.8实验过程中涉及的知识点
4.1.9实验思考题
4.2双极型晶体管特征频率的测量
4.2.1实验目的
4.2.2实验设备及器件
4.2.3实验背景及原理
4.2.4测试系统
4.2.5实验内容
4.2.6实验注意事项
4.2.7实验步骤
4.2.8实验过程中涉及的知识点
4.2.9实验思考题
4.3扩展阅读
第5章场效应晶体管特性实验
5.1场效应晶体管直流交流参数的测量
5.1.1实验目的
5.1.2实验设备及器件
5.1.3实验背景及原理
5.1.4测试系统
5.1.5实验内容
5.1.6实验注意事项
5.1.7实验步骤
5.1.8实验过程中涉及的知识点
5.1.9实验思考题
5.2MOSFET动态开关特性测试
5.2.1实验目的
5.2.2实验设备及器件
5.2.3实验背景及原理
5.2.4测试系统
5.2.5实验内容
5.2.6实验注意事项
5.2.7实验步骤
5.2.8实验过程中涉及的知识点
5.2.9实验思考题
5.3MOS结构的低频C-V特性测量与参数表征
5.3.1实验目的
5.3.2实验设备及器件
5.3.3实验背景及原理
5.3.4测试系统
5.3.5实验内容
5.3.6实验注意事项
5.3.7实验步骤
5.3.8实验过程中涉及的知识点
5.3.9实验思考题
5.4扩展阅读
第6章专用半导体器件特性实验
6.1太阳能电池特性测试
6.1.1实验目的
6.1.2实验设备及器件
6.1.3实验背景及原理
6.1.4测试系统
6.1.5实验内容
6.1.6实验注意事项
6.1.7实验步骤
6.1.8实验过程中涉及的知识点
6.1.9实验思考题
6.2SiC功率器件的特性测试
6.2.1实验目的
6.2.2实验设备及器件
6.2.3实验背景及原理
6.2.4测试系统
6.2.5实验内容
6.2.6实验注意事项
6.2.7实验步骤
6.2.8实验过程中涉及的知识点
6.2.9实验思考题
6.3忆阻器特性测试
6.3.1实验目的
6.3.2实验设备及器件
6.3.3实验背景及原理
6.3.4测试系统
6.3.5实验内容
6.3.6实验注意事项
6.3.7实验步骤
6.3.8实验过程中涉及的知识点
6.3.9实验思考题
6.4扩展阅读
第7章运算放大器实验
7.1分立器件运算放大器
7.1.1实验目的
7.1.2实验设备及器件
7.1.3实验背景及原理
7.1.4测试系统
7.1.5实验内容
7.1.6实验注意事项
7.1.7实验步骤
7.1.8实验过程中涉及的知识点
7.1.9实验思考题
7.2集成运算放大器参数测试
7.2.1实验目的
7.2.2实验设备及器件
7.2.3实验背景及原理
7.2.4测试系统
7.2.5实验内容
7.2.6实验注意事项
7.2.7实验步骤
7.2.8实验过程中涉及的知识点
7.2.9实验思考题
7.3扩展阅读
附录
附录A实验报告及成绩考评要求
附录B推荐配套理论课程教材
参考文献