定价:99.0 元 (0)条评论
ISBN:978-7-111-64587-0
出版日期: 2020-03-31
温德通先生具有多年半导体工艺制程和集成电路设计的产业经验,他的新作《CMOS集成电路闩锁效应》从半导体工艺和电路设计两个角度介绍闩锁效应的理论,同时还融入“ESD保护”方面的知识,是一部不可多得的关于CMOS集成电路闩锁效应方面理论知识的著作。我强烈推荐芯片设计、版图设计、物理验证、工艺研发和可靠性工程师学习。
—— 谢志峰 艾新工商学院 院长/创始人
芯片可靠性设计能力往往成为芯片设计公司的一个隐形技术壁垒。“ESD保护”和“闩锁效应”这两个课题是CMOS集成电路可靠性设计中幽灵一般的梦魇。由于其难以使用一般的EDA工具辅助仿真,所以只能根据电路设计和版图设计的经验,避免相关的寄生结构被触发。《CMOS集成电路闩锁效应》的出版可以更好地普及中国芯片产业的可靠性设计思想,加快芯片设计产业的整体发展,难能可贵!
--林峰 深圳信炜科技有限公司 研发部副总经理
《CMOS集成电路闩锁效应》是温德通先生继《集成电路制造工艺与工程应用》一书后的又一部力作,更是作者深耕集成电路闩锁效应领域10余年的知识及经验的结晶。作者以独特的视角,将困扰业界多年的闩锁效应抽丝剥茧地讲述出来。
在当前国家大力发展集成电路产业的背景下,此书的面世,将为整个集成电路行业带来良好的促进作用。我也将把此书推荐给集成电路相关专业的在校大学生及集成电路设计工程师,希望他们从中大受裨益。
--谢永宜 西安紫光国芯半导体有限公司 高级模拟电路设计工程师
《CMOS集成电路闩锁效应》一书是所有一线半导体工艺研发、电路设计、版图设计和测试工程师的重要手册。作者以针对CMOS工艺的特定工艺平台的实际项目为例,把闩锁效应的机理进行了全方位透彻的物理分析和定性分析。阐述了闩锁效应产生的必要条件,介绍了闩锁效应的业界标准和测试方法,提出了闩锁效应的一套完善的改善方法和设计规则。
该书作为国内近年来少有的专门讲解CMOS集成电路闩锁效应的著作,填补了该方向的空白,具有历程碑式的意义。推荐模拟电路设计、ESD设计和版图设计工程师学习。
----张睿君 德州仪器公司 高级模拟芯片设计工程师
《CMOS集成电路闩锁效应》是温德通先生的又一力作,同上一本一样出类拔萃。我从事半导体行业20多年了,在职业生涯中,我也阅读过一些关于闩锁效应方面的外文书籍。但是没有一本书能像温先生这本书这样,描述得那么详细,并且能结合各种半导体工艺进行分析。
--许尊杰 英麦科(厦门)微电子科技有限公司 设计总监
温德通先生的《CMOS集成电路闩锁效应》是一本不可多得的解读集成电路闩锁效应理论的经典之作,涵盖了闩锁效应的理论、分析方法、业界测试方法、失效判据、物理机理、改善方法和设计规则等,使深奥的闩锁效应理论变得更直观和易懂。本书最大的特点是把业界的测试方法应用到实际工程项目分析中,配合以大量的彩色图片,实用性非常强。
——毕杰 ET创芯网(EETOP)创始人兼CEO
《CMOS集成电路闩锁效应》一书应当是目前国内z全面的讲解闩锁效应的专题书籍,相信半导体从业者读到这本书后,会对自己芯片设计时如何避免闩锁效应的发生,有很大的指导作用,如果芯片设计者的项目发生了闩锁问题,也能从本书中寻找到解决的答案。
——占世武 格科微电子(上海)有限公司 高级芯片开发工程师
定价:85.0 元 (3)条评论
ISBN:978-7-111-60312-2
出版日期: 2018-08-30
电力电子新技术系列图书
定价:39.8 元 (4)条评论
ISBN:978-7-111-48487-5
出版日期: 2015-01-14
定价:49.0 元 (0)条评论
ISBN:978-7-111-48799-9
出版日期: 2015-01-21
定价:32.0 元 (9)条评论
ISBN:978-7-111-48849-1
出版日期: 2015-01-29
定价:49.0 元 (2)条评论
ISBN:978-7-111-49313-6
出版日期: 2015-06-03
随手扫一扫~了解多多